Reliability engineering for electronic systems. New York,Wiley,19^4
Forfatter: R.H. Myers, K.L. Wong
Sider: 360
UDK: 621.38 Mye, 519.294., 3
Eksemplarer: 2
Få adgang
Har du spørgsmål, eller ønsker du adgang til en bog, der ikke er digitaliseret, kan du skrive til bibliotek@dtu.dk.
Kartotekskort
