Techniques of electron microscopy, diffraction, and microprohe analysis. Presented at the 66.annual meeting [ofj American society for testing and materials, Atlantic City,N.J. 1963. Philadelphia,Pa. 1964.
Sider: 89
UDK: 539.27(04), 061.3:539(04), 548.7(04)
Få adgang
Har du spørgsmål, eller ønsker du adgang til en bog, der ikke er digitaliseret, kan du skrive til bibliotek@dtu.dk.
Kartotekskort
