Ein hochfrequentes Messverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleiter-Einkristallen.
Forfatter: H. Krauss
År: 1963
Sider: 64
UDK: 621.315.6(04)
Få adgang
Har du spørgsmål, eller ønsker du adgang til en bog, der ikke er digitaliseret, kan du skrive til bibliotek@dtu.dk.