Ein hochfrequentes Messverfahren zur Bestimmung des spezifischen Widerstandes von Halbleiter-Einkristallen.

Forfatter: H. Krauss

År: 1963

Sider: 64

UDK: 621.315.6(04)

Få adgang

Har du spørgsmål, eller ønsker du adgang til en bog, der ikke er digitaliseret, kan du skrive til bibliotek@dtu.dk.

Kartotekskort