Techniques of electron microscopy, diffraction, and microprohe analysis. Presented at the 66.annual meeting [ofj American society for testing and materials, Atlantic City,N.J. 1963. Philadelphia,Pa. 1964.
(Ikke digitaliseret)
Vi bruger cookies til at føre statistik over antal besøgende og huske om du tillader det. Vil du tillade statistik? Læs mere