Maaleteknik

-■ .....-... T>||fir..»|r.fj|jt.l..>..l.^^-t.>-----................................... ■ 330 Den Tolerans, hvormed Tilledningstraadenes Mod- stand da skal bestemmes, er givet ved Korrektionens Teori. Under de her betragtede Forhold bliver den naturligvis igen lig Ohm. Spørgsmaalet bliver da i OvUv Almindelighed, om vort Kendskab til Ledningsevnen for Trandenes Materiale tør forudsættes tilstrækkelig nøje til en Beregning af deres Modstand med denne Nøjagtighed. Mekanisk En Afpasning af Systemet efter Teoriens Fordringer Maa?eapparatetser realiseret i de »mekaniske« Indretninger til Elimina- Feji. tion af Fejl, hvormed mange Maaleredskaber forsynes. (Nulpunktsskruen ved Westoninstrumentet, den magne- tiske Shunt til Fjærnelse af Enhedsfejl ved de samme Instrumenter, den forskydelige Kontraflade ved Mikro- meterskruen o. s. v.). Elimination af Fejlen kan endelig ofte elimineres ved Benyttelse af særi^g" 'lagt- særlige lagttagelsesmaader (Eks. Symmetrisk Iagttagelse) tageisesmaader eller ved Overgang til særlige Meloder uddannede saa- liøe Metoder ledes> at de udelukker Fejlkildens Indflydelse (Bessels Metode). Systemets B. Maaleredskabet og dets Elementer. Den fun- opbygnmg. damentale Maalemetode. Almindelige Betegnelser og Definitioner. Vi skelner for Maaleapparatets Vedkom- mende mellem primære og sekundære Systemer. Det primære System fører Maalingen af den søgte Egen- skab tilbage til Optælling enten af Inddelinger paa en Maaleslok eller af Elementer i en Skala af Normaler (Vægtlodder o. s. v.). Det er altsaa bygget op af disse Grundelementer — i Almindelighed i Forbindelse med andre — og navnlig udgør Maalestokken et Element af saa at sige ethvert primært System. Det sekundære System er paa tilsvarende Maade bygget op eller afledet af primære Systemer. Maaling ved primære Systemer betegner man ofte som direkte, Maaling ved sekundære Systemer som indirekte. Den indirekte Maaling kan