Maaleteknik

339 ogsaa disse Forhold karakteriseres, og noget tilsvarende gælder principielt ogsaa for det fuldstændige System. (Eks. Glimmerkondensatorens Forhold, termisk Efter- virkning i Thermometrets Beholder, elastisk Eftervirk- ning i Galvanometerophængningen m. m.) Materialprøvning forudsætter, at Materialet uden væ- Fejlkilder, , , karakteristiske sentlig Bearbejdning kan benyttes som Maaleobjekt, idet for det enkeUe Bearbejdning i Almindelighed rummer Mulighed for Element eller Ændring af væsentlige Egenskaber. (Udkhpnmg at & Strimlerne ved Prøve af Transformatorblik.) arbejdning ved En Kilde til Fejl, man særlig ved Normal og Normal- enMateriaiprøv- systemer næsten altid maa regne med, er Ændring J . . , , „ Ændring med med Tiden. Ofte afspejler denne molekulære Tiden. dringet i Materialet for Normalen eller Systemets Elementer. Man stræber at tilvejebringe molekulær Ligevægt ved kunstig Ældning, der gerne i det væsentlige bestaar i en mer eller mindre sammensat Opvarmningsproces. (Eks. Kunstig Ældning af Mod- standsnormalen, Længdenormalen, Magneten i Weston- instruinentet, Thermometrets Beholder.) Disse er enkle eller sammensatte. Hovedelementet i Længde- de enkle Systemer er enten Længdemaalestokken ollci yjnkeimaaiings- Vinkelskalaen (Kredsen). Til Hovedelementet kominer, systemer, bortset fra de Tilfælde, hvor dette udgør hele Maale- apparatet, et Kopieringselement, af hvilket en Kikkert eller et Mikroskop ofte udgør den vigtigste Del. — (Eks. Skydelære, Mikrometerskrue, Kathetometer, Komparator, Sekstant, Meridianinstrument, Spektrometer m. m.). De sammensatte Systemer, der fører Bestemmelsen tilbage til flere Længde- eller Vinkelmaalinger eller til kom- bineret Vinkel- og Længdemaaling, har ofte i Praksis Karakter af primære Systemer og kan i Konsekvens med Definitionen af disse ogsaa betragtes som saadanne. (Den optiske Bænk). Hovedelementet har naturligvis Skalaens Fejl og Fejl- Lænflde’ T_ , , , maalings- og kilder. Til disse kommer nu Kopieringselementets Sæl- vjnkelmaalings- 22’