Maaleteknik 1914
Planlæggelse af Maalingen med given Tolerans

330 Mekanisk Elimination af Maaleapparatets Fejl. Den Tolerans, hvormed Tilledningstraadenes Mod- stand da skal bestemmes, er givet ved Korrektionens Teori. Under de her betragtede Forhold bliver den naturligvis igen lig Ohm. Spørgsmaalet bliver da i Almindelighed, om vort Kendskab til Ledningsevnen for Traadenes Materiale tør forudsættes tilstrækkelig nøje til en Beregning af deres Modstand med denne Nøjagtighed. En Afpasning af Systemet efter Teoriens Fordringer (er realiseret i de »mekaniske« Indretninger til Elimina- tion af Fejl, hvormed mange Maaleredskaber forsynes. (Nulpunktsskruen ved Westoninstrumentet, den magne- tiske Shunt til Fjærnelse af Enhedsfejl ved de samme Instrumenter, den forskydelige Kontraflade ved Mikro- meterskruen o. s. v.). Fejlen kan endelig ofte elimineres ved Benyttelse af særlige lagttagelsesmaader (Eks. Symmetrisk Iagttagelse) Elimination af Fejlen ved særlige lagt- tageisesmaader eller ved Overgang til særlige Metoder uddannede saa- eller ved sær- lige Metoder. ledes, al de udelukker Fejlkildens Indflydelse (Bessels Metode). Systemets Opbygning. B. Maaleredskabet og dets Elementer. Den fun- damentale Maalemetode. Almindelige Betegnelser og Definitioner. Vi skelner for Maaleapparatets Vedkom- mende mellem primære og sekundære Systemer. Del primære System fører Maalingen af den søgte Egen- skab tilbage til Optælling enten af Inddelinger paa en M a ale stok eller af Elementer i en Skala af Normaler (Vægtlodder o. s. v.). Grundelementer — i andre — og navnlig saa at sige ethvert System er paa tilsvarende Maade bygget op eller alledel af primære Systemer. Maaling ved primære Systemer betegner man ofte som direkte, Maaling ved sekundære Systemer som indirekte. Den indirekte Maaling kan Del er altsaa bygget op af disse Almindelighed i Forbindelse med udgør Maalestokken et Element af primært System. Det sekundære